介电常数介质损耗测试仪
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；
在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时
仪器的技术指标
测量项目 测量范围 测量误差
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
电容量Cx 4pF—2000pF ±0.5% Cx±3pF
仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性
测量范围及误差
电容直接测量范围：1～460pF
Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时
仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。
型号频率指示误差：3*10-5 ±1
仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。
电感测量范围：14.5nH～8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至醉低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。
电容量Cx 40pF—20000pF ±0.5% Cx±2pF
测量项目 测量范围 测量误差
内附高压电源晶度3%
信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz
技术指标
内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF
介损损耗tgδ 0-0.1 ±1.5% tgδx±0.0001
主电容调节范围： 30～500pF
介损损耗tgδ 0-1 ±1.5% tgδx±0.0001
本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。
Q值测量范围：2～1023
电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%
