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产品详情

一键式操作款新型X荧光测厚仪 镀层厚度检测仪 镀层检测仪

关键词:X荧光测厚仪

详细信息

性能优势

  1.精密的三维移动平台

  2.样品观测系统

  3.先进的图像识别

  4.轻松实现深槽样品的检测

  5.四种微孔聚焦准直器,自动切换

  6.双重保护措施,实现无缝防撞

  7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

  试并显示结果。

技术指标

  分析元素范围:硫(S)~铀(U)

  同时检测元素:最多24个元素,多达5层镀层

  检出限:可达2ppm,最薄可测试0.005μm

  分析含量:一般为2ppm到99.9%

  镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

  重复性:可达0.1%

  稳定性:可达0.1%

  SDD探测器:分辨率低至135eV

  先进的微孔准直技术:最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm

  样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

  准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

  仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

  样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

  样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

  X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s

  X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

  操作环境湿度:≤90%

  操作环境温度:15℃~30℃

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