半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷自动滤光片选择多种准直器自动自由切换三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序样品腔自动开关软件定位样品平台，最小位移 0.01 mm自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品特别开发测量软件，操作界面十分友好内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击的自动移动平台，方便地调节样品位置采用天瑞仪器专利产品--信噪比增强器 SNE，大幅提高光谱仪测量的确定性和度配合自动移动平台全新开发的样品定位系统，实现“点”哪测哪鼠标轻点样品视图中需要检测部位，EDX 3000D 将移动样品至位置，完成检测。

1.6. 技术性能及指标: TechnicalPerformance and Specifications

　　分析原理编辑 语音ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。