XRF测厚仪已经成为电力行业，PCB行业，贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析，也比切片法具有更快的分析效率。

　　应用领域。

　　金、铂、银等贵金属及各种首饰的测定。

　　金属镀层厚度的测量，电镀液和镀层含量的测定。

　　光谱镀层测厚仪主要用于贵金属加工和珠宝加工行业；银行、珠宝销售和检测机构；电镀行业。

工作原理

　　被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。

　　由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量或厚度。

　　光谱镀层测厚仪产品说明、技术参数和配置。

　　光谱镀层测厚仪Thick800A是天瑞仪器专为表面处理行业开发的仪器，具有多年的使用经验。可以全自动软件操作，多点测试。仪器的测试点和移动平台由软件控制。它是一个功能强大的仪器，有专门为它开发的软件，可以说是展示了它在表面处理行业的才华。

　　性能特点。

　　满足不同厚度和不规则表面样品的测试要求。

　　直径为φ0.1mm的孔径准直器可以满足微小测试点的需要。

　　移动平台能够定位测试点，重复定位小于0.005mm。

　　高度定位激光可以自动定位测试高度。

　　定位激光确定定位点，以确保测试点与点对齐。

　　鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。

　　高分辨率探头使分析结果更加准确。

　　射线效果好。

　　标准配置。

　　打开样品室。

　　精密二维移动样品平台、探测器、X射线管可上下移动，实现三维移动。

　　双激光定位装置。

　　光谱镀层测厚仪用铅玻璃

　　硅针探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　x射线管。

　　高度传感器。

　　保护传感器。

　　电脑和喷墨打印机。