X射线荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD（硅漂移）探测器，元素测试范围更广、检出限更低、数据稳定性更好。广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及产品等公司内部进行质量把控。适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。

　　探测器：美国Amptek SDD探测器，高速脉冲分析系统；

　　2、高压电源：美国Spelln (50kv/)；

　　3、X射线管：新型X光管；

　　4、能量分辨率：140±5ev；

　　5、元素分析范围：钠（Na）到铀（U）；

　　6、分析含量：1ppm到99.99%；

　　7、测量时间：60—300s；

　　8、交流220v供电设备，1KVA交流净化稳压电源；

　　9、工作温度：10—30℃；

　　10、测量条件：大气环境；

　　适应各种合金成分分析

　　高分辨率高稳定性探测器

　　可靠、稳定高压电源和X光管，测试结果稳定、准确

　　先进、准确、多元的分析软件和分析方法

　　软硬结合的防辐射设计

　　自动设置参数和滤光片

　　操作简单，一键式操作设计

　　快速无损分析样品

　　超温保护，超载保护

　　无需耗材

　　天瑞根据多年的RoHS检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

　　性能特点

　　RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析

　　内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍以上

　　针对不同样品可自动切换准直器和滤光片

　　电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷

　　智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单

　　技术指标

　　测量元素：从硫到铀等 75 种元素

　　元素含量分析范围：1ppm-99.99%

　　RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm

　　测量时间：60-300s

　　能量分辨率：165±5eV

　　管压：5-50 kV

　　管流：50-1000μA

　　标准配置

　　信噪比增强器

　　独特的光路增强系统

　　电制冷硅针半导体检测器

　　内置高清晰摄像头

　　自动切换准直器和滤光片

　　的平台

　　加强金属元素感度分析器

　　相互的基体效应校正模型

　　任意多个可选择的分析和识别模型

　　应用领域

　　电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测

　　电镀行业检测