多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

　　性能特点

　　贵金属检测、镀层厚度检测。

　　X光测厚仪智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序。

　　技术指标

　　元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。

　　测量对象：固体、液体、粉末

　　分析检出限可达：ppm。

　　分析含量一般为：ppm到99.9％。

　　标准配置

　　单样品腔。

　　正比计数盒探测器。

　　X光测厚仪信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　外观尺寸： 430×380×355mm

　　样品腔尺寸：306×260×78mm

　　重量：30kg

　　应用领域

　　黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

　　金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

经典型X光测厚仪

　　仪器介绍

　　Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　性能特点

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

　　高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加准

　　良好的射线作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

　　技术指标

　　型号：Thick 800A

　　元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

　　同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析含量一般为ppm到99.9% 。

　　镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　度适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

　　样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg

　　标准配置

　　开放式样品腔。

　　精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

　　双激光定位装置。

　　铅玻璃罩。

　　Si-Pin探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　高度传感器

　　保护传感器

　　计算机及喷墨打印机